ST2571-F01 钨针矩形四探针测试探头

ST2571-F01 钨针矩形四探针测试探头

产品介绍

基本功能：ST2571-F01 型钨针矩形四探针测试探头，矩形1*1mm针距,有高耐磨碳化钨探针，配以四探针仪器和测试台，用以测试导体ITO膜 触摸屏等金属化膜材料的电阻率和方块电阻。

基本组成：成套探头有可拆换式碳化钨探针、探针夹持单元、探针和探头压力缓冲弹簧、手持式外套、测试台连接单元，仪器连接线缆等部件组成。

配套与兼容：本探头兼容本公司suo有四探针仪器和四探针测试台，如下表主要型号，配以本公司测试台，也可兼容其他大部分厂家四探针仪器。

      ST2571-F01 型钨针矩形四探针探头适用产品部分型号及名称列表

二、主要技术参数及说明

1 可测片料块料或棒料等。z小样品尺寸2mm×2mm，z大平面尺寸和厚度，由所配测试台决定，手持探头方式不限。

1 .1探针间距：矩形1*1mm针距。

1.2探针机械游移率： ±0.5%。

1.3探针：碳化钨，Φ0.5mm。

1.4压力： 0～1000g可调,额定压力约600g。

2.探针为可快捷拆换型，方便生产线频繁使用。

3.本公司可为顾客长期代购探针配件，价格优惠，服务周到。

三、使用方式，请参照各配套测试台使用方式。