ST2571A-F02型薄膜方阻矩形四探针探头

ST2571A-F02型薄膜方阻矩形四探针探头

一 、功能与结构特征概述

           ST2571A-F02薄膜方阻矩形四探针探头

    基本功能：ST2571A-F02 型薄膜方阻矩形四探针探头，矩形1.0mmX1.0mm微针距，有球形尖镀金磷铜合金探针，配以四探针仪器和测试台，用以测试柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。

    基本组成：成套探头有可拆换式碳化钨探针、探针夹持单元、探针和探头压力缓冲弹簧、手持式外套、测试台连接单元，仪器连接线缆等部件组成。

    配套与兼容：本探头兼容本公司suo有四探针仪器和四探针测试台，如下表主要型号，配以本公司测试台，也可兼容其他大部分厂家四探针仪器。

           ST2571A-F02型薄膜方阻矩形四探针探头适用产品部分型号及名称列表

二、主要技术参数及说明

    1 可测片料块料或棒料等。z小样品尺寸2mm×2mm，z大平面尺寸，由所配测试台决定，手持探头方式不限。

    2 .1探  针  间  距：矩形1.0mmX1.0mm微针距。

    2.2探针机械游移率： ±0.5%。

    2.3探          针：镀金磷铜合金，Φ0.28mm。

    2.4压          力： 0～200g可调,额定压力约160g。

    3 探针为可快捷拆换型，方便生产线频繁使用。

    4 本公司可为顾客长期代购探针配件，价格优惠，服务周到。

三、使用方式，请参照各配套测试台使用方式。